儿童鼻腔纽扣电池与磁铁取出后的长期结局及生活质量

要点

• 鼻腔内误置纽扣电池和磁铁是常见的儿科急症，可导致严重的黏膜损伤。
• 大多数儿童在异物取出后可获得良好的长期鼻-鼻窦结局，并保留较好的生活质量（QoL）。
• 异物滞留时间延长以及就诊时已有症状，与长期并发症风险显著升高相关。
• 对于有症状的儿童及异物取出延迟者，建议进行常规的延长随访，以预防疾病负担。

研究背景

纽扣电池和磁铁是幼儿重要的安全隐患，儿童常因将其置入鼻腔等孔口而前往急诊。由于化学作用和压力作用，这类异物可造成从黏膜糜烂到鼻中隔穿孔及坏死等严重的局部组织损伤。尽管临床指南强调应尽快取出以尽量减少急性并发症，但关于此类事件后长期鼻-鼻窦结局和生活质量的数据仍然稀缺。了解这些结局对于优化随访管理以及向家庭进行预后和潜在后遗症咨询至关重要。

研究设计

这项回顾性观察性研究回顾了2015年至2023年间因鼻腔纽扣电池或磁铁取出而接受治疗的儿童。研究对象共39例，平均年龄为4.6 ± 2.7岁。收集的数据包括异物滞留时间、就诊时黏膜损伤的类型和范围，以及临床症状表现。长期生活质量通过临床随访检查和电话访谈进行评估，所用工具为经过验证的希伯来语版儿童鼻-鼻窦结局测试（Sino-Nasal Outcome Test for children，SN-5）和鼻阻塞症状评估（Nasal Obstruction Symptom Evaluation，NOSE）问卷。结局与初始损伤严重程度及取出时机进行相关性分析。

主要发现

异物滞留时间的中位数为6小时，但范围差异很大，从0.5小时到1440小时不等。就诊时，近79%的儿童可见黏膜损伤：鼻中隔穿孔占20.5%，黏膜糜烂占56.4%，组织坏死占12.8%。尽管初始损伤较重，但大多数患者在随访时急性并发症均已缓解。约20.6%的患者仍可见持续性内镜异常，提示存在慢性黏膜改变或后遗改变。

统计分析显示，滞留时间越长以及就诊时存在症状，与持续性并发症发生率升高显著相关。值得注意的是，无论是否曾发生并发症，SN-5和NOSE问卷所示的长期QoL评分均与健康儿童人群相当。这提示鼻-鼻窦功能大多得以保留，且对日常生活福祉的影响较小。

专家点评

纽扣电池损伤具有独特性，主要源于其电化学腐蚀潜能，可在数小时内迅速造成组织损伤。本研究强调了临床上必须尽快识别并紧急取出，以降低严重鼻-鼻窦损伤风险。研究结果与当前指南中强调迅速干预的推荐一致。

较好的长期生活质量结果令人宽慰，但少数患者仍存在残余内镜异常，因此仍需谨慎监测。临床医师应警惕慢性炎症或鼻中隔穿孔等晚期并发症，这些并发症未必总是以症状形式表现出来。该研究为回顾性设计且样本量有限，限制了其推广性；然而，采用经过验证的QoL工具增强了其临床相关性。

未来的前瞻性研究可探索促进黏膜愈合、预防后遗症的潜在干预措施。从机制上看，损伤严重程度可能与作用时间及化学暴露程度相关，这或可为新型治疗策略提供靶点。

结论

儿童鼻腔纽扣电池和磁铁取出后，通常可获得良好的鼻-鼻窦愈合并保留生活质量，尤其是在及时取出的情况下。异物滞留时间延长及有症状就诊可预测持续性并发症风险升高，因此这类病例需要紧急处理并进行延长随访。这些认识有助于在权衡急性损伤严重程度的同时，更准确地评估总体长期功能结局，从而优化临床决策和家长沟通。继续加强公众认知和预防策略，对于降低儿科人群中此类事件的初发仍至关重要。

资助与临床试验注册

原研究未报告具体资助来源或临床试验注册信息。

参考文献

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